《高可靠性航空产品试验技术》适用于从事武器装备可靠性与质量控制管理方面的技术人员阅读，也可供从事装备环境与可造性试验与研究的科研人员在进行试验设计与实施和科研工作开展中作为参考。
第1章 导论
1.1 概述
1.1.1 可靠性试验发展概况
1.1.2 高可靠电子装备可靠性试验技术新进展
1.1.3 可靠性综合试验——高效费比可靠性试验
1.2 装备采办研制过程中可靠性试验地位和作用
1.2.1 三类试验与评价
1.2.2 试验与评价总体计划
1.2.3 结合国情制定可靠性综合试验要求和计划
1.3 可靠性试验任务、方法和技术
1.3.1 寿命周期各阶段试验任务、方法和相关标准
1.3.2 试验策略
1.3.3 可靠性试验新方法、新技术、新思路
参考文献
第2章 可靠性增长试验
2.1 定义
2.1.1 基本概念
2.1.2 可靠性增长途径
2.2 增长有效性
2.2.1 可靠性增长过程
2.2.2 主要信息来源
2.3 可靠性增长模型
2.3.1 杜安模型
2.3.2 AMSAA模型
2.4 试验适用性
2.5 可靠性增长试验步骤
2.6 可靠性增长估计
参考文献
第3章 可靠性增长摸底试验
3.1 概述
3.2 定义及适用范围
3.3 试验对象
3.4 试验方案及实施
3.4.1 统计试验方案
3.4.2 试验剖面
3.5 试验技术特点
3.5.1 试验意义
3.5.2 试验优缺点
3.5.3 推广及应用
3.6 试验案例
参考文献
第4章 环境应力筛选
第5章 加速试验
第6章 高加速寿命试验
第7章 可靠性鉴定试验
第8章 内外场可靠性综合试验
第9章 MTBF保证试验
第1章 导论
1．1 概述
1.1.1 可靠性试验发展概况 产品可靠性试验从1952年AGREE（美国“电子设备可靠性咨询组”）提出，至今已有58年。从1960年美军发布国防部手册《质量控制与可靠性手册》H108，正好50年，从1963年发布了MIL-STD-781《可靠性试验》，至今也有47年，中间虽然经历了MIL-STD-781B、C、D和MIL-HDBK-781A数种版本，但所采用的可靠性方法都是假设产品寿命分布为指数分布，其试验目的都是以一定置信水平评价产品可靠性指标（平均故障间隔时间MTBF）是否满足合同要求，因此也称为寿命评估试验。20世纪80年代，随着电子产品，尤其是计算机的快速发展，出现了一系列高可靠电子产品。高可靠电子产品对可靠性试验方法提出了更高的新要求。在推动可靠性试验评估方法改进的过程中，美国于1994年初成立了国防试验与评价统计方法研究小组，经过四年努力，在1998年发表了研究报告《统计、试验与采办--新的途径与方法改进》，报告重点探讨了四个领域的统计方法：①可靠性、可用性、维修性（RAM）评估；②建模与仿真的使用；③软件测试方法；④试验设计技术与应用。提出了RAM评估是统计密集程度最高的观点，论述了“在系统研制与采办中如何增加利用统计方法的机会”，并建议釆用威布尔分析等方法釆替代相对比较保守的指数分布假设方法。在统计方法上另一个进展就是加快了贝叶斯方法的应用步伐。
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