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半导体物理与器件实验教程

半导体物理与器件实验教程

定  价:26 元

        

  • 作者:计峰
  • 出版时间:2023/11/1
  • ISBN:9787560769523
  • 出 版 社:山东大学出版社
  • 中图法分类:O4-33 
  • 页码:70
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:16开
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本书主要分为半导体物理实验及半导体器件实验两部分。半导体物理实验包括单 晶硅材料的激光定向、单晶硅中晶体缺陷的腐蚀显示、半导体材料导电类型测定、四探针 法测试半导体电阻率、霍尔效应实验、高频光电导法测少子寿命、半导体材料光学特性的 测量、MOS 结构 C-V 特性测量、PN 结势垒特性及杂质的测试分析、PN 结正向特性的研 究和应用等十个实验。半导体器件实验包括二极管特性参数测量、稳压二极管特性测 量、双极型晶体管直流参数测量、场效应管直流参数测量、晶体管基极电阻测量、晶体管 特征频率测量、数字电桥测量电位器的电阻值、集成电路特性测量、太阳能电池测量等十 个实验。
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