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工业电子测试技术

工业电子测试技术

定  价:65 元

        

  • 作者:吕辉
  • 出版时间:2024/6/1
  • ISBN:9787030786432
  • 出 版 社:科学出版社
  • 中图法分类:TM93 
  • 页码:240
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:16
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读者对象:读者对象:集成电路设计与集成系统、微电子科学与工程、电子科学与技术等电子信息类相关专业学生,电子测试领域的工程技术人员。

本书主要内容包括:工业电子测试技术基本概念、相关电气及电子技术基础知识、工业电子测试中可能使用到的传感器、测试系统通讯接口及协议、测试系统接口、常用测试仪器、常用测试软件、典型芯片及器件的测试方法。(1)构建了应用导向的科教融合创新课程体系。面向芯片测试产业,建立基于应用导向的科教融合专业课程体系以及质量监控方案,促进了供需对接和流程再造,缩小高校人才培养与芯片企业用人需求之间的差距;跟踪芯片前沿动态,将企校合作的科研成果及时的反哺教学,更新教学内容和实践体系,促进课程内容与技术发展衔接、教学过程与生产过程对接,人才培养与产业需求匹配,提升了芯片测试人才培养质量,形成科教互促的创新人才培养模式。 (2)让学生在培养过程中能接触到芯片产业中当前正在使用的前沿技术,同时依托优质的实践环境和工程级的专业技术指导进行实训,从而培养出能直接承担相关技术工作、实践能力强、满足企业实际需要的专业人才。

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